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lunes, 14 de julio de 2008

Informe Phoenix

La principal prioridad para el equipo de científicos que gobierna las actividades de la sonda marciana Phoenix es analizar el hielo procedente del subsuelo inmediato. Pero dado que las temperaturas ambientales son muy bajas, los expertos esperan que éste sea muy duro y compacto, comparable a rascar en una acera. Para poder recoger una muestra, los controladores ensayaron varias técnicas en busca de la mejor forma de llevarla hasta el instrumento TEGA. El vehículo dispone de hasta tres herramientas para ayudar a acceder al hielo. En efecto, la pala excavadora posee dos hojas de diferente material, y una especie de raspador. El objetivo no es obtener un pedazo de hielo, sino partículas finas que puedan ser introducidas hasta el instrumento analizador.
Las pruebas realizadas provocaron la producción de pequeños montones de partículas en el surco donde trabajaba la Phoenix. Pero éstos eran tan pequeños que la pala no pudo recogerlos. Algo así como recoger el polvo de nuestro hogar con una pala, aunque sin escoba. La Phoenix realizó dos sesiones de 50 movimientos de rascado el 7 de julio, produciendo dos pilas, en la zona “Snow White”, pero las imágenes mostraron que éstas no habían podido ser introducidas al interior de la pala excavadora.
La siguiente prueba implicaría el uso del raspador motorizado, así que se efectuaron numerosos ensayos en el modelo instalado en la Tierra. Mientras, en Marte, se empleó por primera vez un sensor para medir la conductividad térmica y eléctrica del suelo marciano. El aparato tiene el aspecto de un tenedor de cuatro puntas de unos 1,5 cm de largo. El brazo robótico de la sonda empujó la herramienta contra el suelo, hasta tocarlo, donde podría efectuar sus mediciones, aunque habría que esperar a un segundo posicionamiento (10 de julio) para obtener resultados concretos. Antes de ahora, el mismo instrumento ha servido para medir la cantidad de vapor de agua presente en la atmósfera.
La Phoenix envió a la Tierra, asimismo, su primera imagen procedente de su microscopio de fuerza atómica. Fabricado en Suiza, este microscopio obtiene una imagen de la superficie de una partícula midiéndola con la aguda punta situada en el extremo de un muelle. El sensor sube y baja siguiendo el contorno de la partícula, lo que proporciona información sobre su forma. Es decir, en vez de usar una cámara fotográfica, toca a su objetivo para obtener la imagen. Su sensibilidad le permite conseguir detalles tan pequeños como 100 nanómetros, menos de una centésima del grosor de un cabello humano, y 20 veces más diminutos que lo que puede resolver el microscopio óptico de a bordo. (Foto: NASA/JPL-Caltech/University of Arizona/Texas A&M University)

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